Automatisch genereren van testpatronen voor het detecteren van fouten uit de netlijst van een circuit. Wordt gebruikt in combinatie met scanontwerp.
Japanse benaming: ATPG(自動テストパターン生成)
“ATPG (automatic test pattern generation)” komt voor in 7 oefenvragen uit 4 onderwerpen, bijv. Testen en inspectie, Metrologie en analyse, Opbrengst en kwaliteitsbeheersing.
Vakgebied: Testen en inspectie
Antwoord: C. De flip-flops in de schakeling worden als schuifregister gekoppeld, zodat de interne toestand eenvoudig kan worden ingesteld en waargenomen
Bij scanontwerp krijgt de ingang van elke flip-flop een omschakelende selector, zodat de flip-flops tijdens de test in serie worden geschakeld (scanketen). Extern kan dan door schuiven een willekeurige waarde worden ingesteld en kan de interne waarde door schuiven worden uitgelezen. De test van een sequentiële schakeling wordt hierdoor vervangen door de test van een combinatorische schakeling, zodat ATPG automatisch patronen met een hoge foutdekking kan genereren. Aftasten met een microscoop of een spanningssweep is iets anders.
Antwoord: B. Een fout waarbij de waarde van een signaallijn vastligt op 0 of 1
Het stuck-at-foutmodel gaat uit van fouten waarbij een signaallijn in de schakeling altijd 0 (stuck-at-0) of altijd 1 (stuck-at-1) is; bij n signaallijnen zijn er 2n fouten. Het model is eenvoudig, maar kan veel fysieke defecten zoals kortsluitingen en onderbrekingen vertegenwoordigen en vormt de basis van ATPG en de beoordeling van de foutdekking. Fouten waarbij een signaal trager wordt, worden met het vertragingsfoutmodel behandeld; temperatuurstijging is geen foutmodel.
De test van een sequentiële schakeling wordt hierdoor vervangen door de test van een combinatorische schakeling, zodat ATPG automatisch patronen met een hoge foutdekking kan genereren.
Welke beschrijving van scanontwerp, een vorm van Design for…Het model is eenvoudig, maar kan veel fysieke defecten zoals kortsluitingen en onderbrekingen vertegenwoordigen en vormt de basis van ATPG en de beoordeling van de foutdekking.
Welke beschrijving van het stuck-at-foutmodel (stuck-at fau…ATPG is een techniek waarmee op basis van een foutmodel, zoals stuck-at-fouten, automatisch uit de netlijst invoerpatronen worden gegenereerd die elke fout tot de uitgang doorgeven en zo detecteerbaar maken.
Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor he…Patronen die fouten efficiënt detecteren, worden automatisch met ATPG gegenereerd of omgezet uit simulaties voor verificatie tijdens het ontwerp.
Hoe heet de combinatie van de reeks 0- en 1-signalen die ac…ATPG is het genereren van testpatronen en APC de automatische procesregeling.
Welke functie fotografeert bij inspectie gevonden defecten …Foutdekking (fault coverage) APC (advanced process control) DFT (design for testability) Sequentiële schakeling Combinatorische schakeling DRC (design rule check) SEM (scanning-elektronenmicroscoop) Defectinspectieapparaat Numerieke apertuur (NA) Plaatsing en routering (place and route)