Mechanisme waarbij testschakelingen in de chip zijn ingebouwd, zodat de chip zelf testpatronen genereert en het resultaat beoordeelt. Wordt veel gebruikt voor onder meer geheugentests.
Japanse benaming: BIST(組み込み自己テスト)
“BIST (built-in self-test)” komt voor in 5 oefenvragen uit 4 onderwerpen, bijv. Testen en inspectie, Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid, Logische schakelingen.
Vakgebied: Testen en inspectie
Antwoord: A. Latente fouten opsporen die bij normale werking niet aan het licht komen, zoals in de veiligheidsmechanismen zelf, en zo de latent fault metric (LFM) verhogen
Ook als veiligheidsmechanismen zoals het correctiecircuit van de ECC of de comparator defect zijn, komt dat bij normale werking niet aan het licht en blijft het als latente fout bestaan. Door bij het inschakelen met logic-BIST of memory-BIST de eigen schakelingen van de chip te testen, kunnen zulke fouten vóór het rijden worden gevonden en kan de LFM worden verhoogd. Het uitvoeren van BIST kost tijd en in die tijd is geen normale verwerking mogelijk, dus bij het ontwerp wordt ook rekening gehouden met de tijdsbeperkingen bij het opstarten. Het is geen vervanging van de leveringstest en dient niet om de verwerking te versnellen.
Antwoord: B. Testschakelingen worden in de chip opgenomen, zodat de chip zichzelf test
Bij BIST zijn een patroongenerator en een beoordelingsschakeling voor de resultaten in de chip ingebouwd, zodat de chip de test zelf uitvoert. MBIST voor geheugens genereert snel patronen zoals de March-test, terwijl LBIST voor logische schakelingen pseudowillekeurige patronen gebruikt. Naast een lagere afhankelijkheid van dure testers en een kortere testtijd is er het voordeel dat chips voor auto's ook na de levering bij elke inschakeling zichzelf kunnen diagnosticeren.
Door bij het inschakelen met logic-BIST of memory-BIST de eigen schakelingen van de chip te testen, kunnen zulke fouten vóór het rijden worden gevonden en kan de LFM worden verhoogd.
Wat is vanuit functionele veiligheid het belangrijkste doel…Bij BIST zijn een patroongenerator en een beoordelingsschakeling voor de resultaten in de chip ingebouwd, zodat de chip de test zelf uitvoert.
Welke beschrijving van BIST (Built-In Self-Test) is juist?Omdat het met alleen XOR en flip-flops kan worden gemaakt, wordt het gebruikt voor patroongeneratie en resultaatcompressie bij ingebouwde tests (BIST), voor CRC-berekening bij onder meer Ethernet en voor scramblers die signalen middelen om elektromagnetische ruis te verminderen.
Wat is een typische toepassing van een lineair teruggekoppe…Omdat er evenveel testerkanalen nodig zijn als er chips tegelijk worden gemeten, wordt dit gecombineerd met maatregelen om het benodigde aantal pennen te verminderen, zoals BIST en scancompressie.
Hoe heet de methode waarbij een tester meerdere chips gelij…BIST is een testschakeling en EDA zijn ontwerptools.
Welk systeem beheert in de fabriek onder meer welk lot zich…Microcontroller (MCU) ECC (foutcorrigerende code) Comparator Numerieke apertuur (NA) Schuifregister ATE (automatic test equipment) ATPG (automatic test pattern generation) Burn-in DFT (design for testability) Foutdekking (fault coverage)