Testen en inspectie

Welke beschrijving van de probe card is juist?

  1. AEen mal voor het afdichten van de chip
  2. BEen houder voor het transport van wafers
  3. CEen opspanning waarmee naalden in contact worden gebracht met de elektroden van de chips op de wafer en die de chip elektrisch met de tester verbindt
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Een opspanning waarmee naalden in contact worden gebracht met de elektroden van de chips op de wafer en die de chip elektrisch met de tester verbindt

Een probe card is een productspecifieke opspanning waarin een groot aantal naalden is geplaatst volgens de indeling van de elektrodepads van de chip. De prober richt de wafer met een camera uit, tilt de chuck op zodat de naalden de pads raken, en verbindt zo de tester elektrisch met de chip. Naaldtypen zijn onder meer de cantilever-uitvoering met schuine naalden, de verticale uitvoering en de uitvoering die met MEMS-technologie wordt vervaardigd. Een afdichtingsmal of een transporthouder is iets anders.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Welke beschrijving van het stuck-at-foutmodel (stuck-at fault) dat bij de test van logische schakelingen wordt gebruikt, is juist?
  2. Welke definitie van de foutdekking (fault coverage) van een testpatroon is juist?
  3. Wat is KGD (Known Good Die), dat belangrijk is bij het monteren van meerdere chips in één behuizing?
  4. Hoe heet de methode waarbij een tester meerdere chips gelijktijdig meet om de testkosten te verlagen?
  5. Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor het detecteren van fouten uit de netlijst van een schakeling?