Isotroop etsen versus anisotroop etsen: profiel, onderetsing, oorsprong van de richtingsafhankelijkheid en selectiviteit
Isotroop etsen verwijdert materiaal verticaal en zijwaarts met dezelfde snelheid, dus het eet onder de maskerrand door (onderetsing) en laat een afgerond profiel achter. Anisotroop etsen verloopt in bepaalde richtingen veel sneller, en er zijn twee verschillende manieren om dat te bereiken. De ene is droog etsen, waarbij ionen die in een plasma verticaal worden versneld de reactie op de bodem aandrijven terwijl een passiveringslaag de zijwanden beschermt, wat vrijwel verticale zijwanden geeft. De andere is nat etsen van monokristallijn silicium in alkalische oplossingen zoals KOH of TMAH, waarbij de (111)-vlakken zeer langzaam etsen, zodat kristalvlakken de vorm bepalen. Nat betekent niet altijd isotroop en droog niet altijd anisotroop: droog etsen met alleen radicalen is isotroop. Richtingsafhankelijkheid gaat ten koste van selectiviteit en schade, dus de keuze hangt af van het doel.
| Kenmerk | Isotroop etsen | Anisotroop etsen (droog, ion-ondersteund) | Kristalvlakafhankelijk anisotroop etsen (nat) |
|---|---|---|---|
| Wat de richtingsafhankelijkheid veroorzaakt | Niets: de chemische reactie verloopt in alle richtingen even snel | Ionen die door het elektrische veld verticaal worden versneld, bevorderen de reactie op de bodem, terwijl een passiveringslaag de zijwanden beschermt | De etssnelheid verschilt sterk tussen kristalvlakken; (111)-vlakken van silicium etsen zeer langzaam |
| Profiel | Afgerond, gecentreerd op de maskeropening | Vrijwel verticale zijwanden (taperhoek instelbaar via de procescondities) | Hellingen van ongeveer 54,7° op (100)-wafers; verticale wanden op (110)-wafers |
| Onderetsing | Groot: zijwaarts ongeveer evenveel als in de diepte, en meer bij overetsen | Klein | Stopt bij (111)-vlakken onder maskerranden die op <110> zijn uitgelijnd; convexe hoeken en niet-uitgelijnde randen worden onderetst |
| Typische methoden | Nat etsen zoals HF-etsen van oxide, XeF2-gas, downstreamplasma dat alleen radicalen levert | RIE, ICP-etsen, het Bosch-proces | Alkalische oplossingen zoals KOH en TMAH |
| Selectiviteit | Gemakkelijk hoog te maken, omdat er vrijwel geen fysieke verwijdering is | Ionenbombardement tast ook maskers en onderliggende lagen aan, en een sterkere richtingsafhankelijkheid verlaagt doorgaans de selectiviteit | Hoog: maskers van siliciumnitride en oxide (vooral met TMAH) worden nauwelijks geëtst |
| Schade | Laag | Ionenbombardement en oplading kunnen schade veroorzaken | Geen plasmaschade |
| Beperkingen in vorm | Niet geschikt voor structuren die smaller zijn dan de laagdikte | Draagt de maskervorm vrijwel exact over; diepe gaten hebben last van effecten zoals snelheidsverlies dat van de aspectverhouding afhangt | Werkt alleen op monokristallijn silicium, met vormen die door kristalvlakken worden bepaald; maskers moeten op de kristaloriëntatie worden uitgelijnd |
| Typische toepassingen | Verwijderen van volledige lagen, reiniging, etsen van opofferingslagen in MEMS, verwijderen van SiGe tussen GAA-nanosheets | Fijne patronen zoals transistorgates, contacten, trenches en via's; diepe verticale gaten in MEMS | Bulk-micromachining zoals MEMS-membranen, V-groeven en piramidevormige putjes |
De getalswaarden zijn typische ordegroottes en variëren per procesgeneratie en product.