Nat- versus droogetsen: richtingsgevoeligheid, selectiviteit en toepassingen vergeleken
Etsen is het proces waarbij materiaal van de wafer wordt verwijderd om een patroon te vormen. Bij natetsen wordt het materiaal opgelost in een chemische vloeistof. Het is eenvoudig, snel en zeer selectief, maar het etst ook zijwaarts en niet alleen in de diepte (isotroop), waardoor het ongeschikt is voor fijne structuren. Droogetsen gebruikt het plasma van reactieve gassen in een vacuümkamer. Door de werking van ionen kan het sterk richtingsgevoelig (anisotroop) zijn, wat onmisbaar is om de smalle, verticale structuren van moderne chips te etsen.
| Kenmerk | Natetsen | Droogetsen |
|---|---|---|
| Medium | Chemische vloeistof. HF voor oxide, hete fosforzuur voor nitride, KOH voor silicium enzovoort | Plasma van reactieve gassen in een vacuümkamer (RIE enzovoort) |
| Richtingsgevoeligheid | Meestal isotroop. Etst ook zijwaarts en onder het masker (KOH-etsen van silicium volgt de kristalvlakken, een uitzondering) | Kan sterk anisotroop zijn. Ionenbombardement en bescherming van de zijwanden geven vrijwel verticale zijwanden |
| Selectiviteit | Meestal zeer hoog, omdat de chemische reactie beperkt is tot specifieke materialen | Lager dan bij nat. Instelbaar via gassoort en plasmacondities |
| Minimale afmeting | Beperkt door onderetsing. Gebruikt voor grote patronen en het verwijderen van lagen | Onmisbaar voor patronen op nanometerschaal |
| Doorvoer | Hoog. In baden kunnen veel wafers tegelijk worden verwerkt | Lager. Meestal wordt één wafer per keer verwerkt |
| Procesbeheersing | Hangt af van badtemperatuur, concentratie en tijd | Nauwkeurig. Het eindpunt is te detecteren aan de plasma-emissie |
| Schade | Geen plasmaschade | Mogelijk plasmaschade en opladingseffecten (antenne-effect) |
| Apparatuur en afval | Eenvoudige apparatuur, maar er komt vloeibaar afval vrij | Complexe vacuümapparatuur en verwerking van afgassen zijn nodig, met hogere kosten |
| Belangrijkste toepassingen | Wafercleaning, verwijderen van lagen (oxide, nitride), bulk-siliciumetsen voor MEMS | Patroonvorming van gates, contacten, trenches en vias in geavanceerde IC's |
De getalswaarden zijn typische ordegroottes en variëren per procesgeneratie en product.