EUV- versus DUV-lithografie: golflengte, optiek en kosten vergeleken
Lithografie is het proces waarbij met licht een circuitpatroon op de wafer wordt afgebeeld. DUV (deep ultraviolet) gebruikt het 193 nm-licht van een ArF-laser en belicht via lenzen en water (immersie) tussen lens en wafer. EUV (extreme ultraviolet) gebruikt licht van 13,5 nm, waarmee in één belichting veel fijnere patronen mogelijk zijn. Dit licht wordt echter door vrijwel alle materialen geabsorbeerd, dus het hele systeem moet uit spiegels in vacuüm bestaan. EUV is veel duurder en complexer.
| Kenmerk | DUV (ArF-immersie) | EUV |
|---|---|---|
| Golflengte | 193 nm | 13,5 nm |
| Lichtbron | ArF-excimerlaser | Laser-geproduceerd plasma. Een laser raakt kleine druppels gesmolten tin |
| Optiek | Lenzen (refractief). Bij immersie zit er water tussen de laatste lens en de wafer | Alleen spiegels (reflectie met meerlaagse coating), omdat vrijwel alle materialen EUV-licht absorberen |
| Fotomasker | Transmissief masker van kwarts | Reflectief masker met een meerlaagse coating |
| Omgeving | Lucht of stikstof, plus het immersiewater | Vacuüm |
| Resolutie | Tot een pitch van ongeveer 80 nm in één belichting. Voor fijnere patronen is multipatterning nodig | Pitches van rond 30 nm of kleiner in één belichting. High-NA EUV gaat nog fijner |
| Procescomplexiteit | Multipatterning (SADP, SAQP enzovoort) verhoogt het aantal processtappen | Voor de fijnste lagen minder stappen, maar er zijn nieuwe uitdagingen voor resist en masker |
| Belangrijkste defecten | Overlayfouten en defecten door multipatterning | Stochastische defecten door het kleine aantal fotonen en maskerdefecten |
| Prijs van de machine | Enkele tientallen miljoenen dollars per stuk | Ruim boven de 100 miljoen dollar per stuk |
| Leveranciers | ASML, Nikon en anderen | In feite alleen ASML |
| Belangrijkste gebruik | De meeste lagen van de meeste chips, ook van geavanceerde chips | De kritiekste en fijnste lagen vanaf de 7 nm-generatie |
De getalswaarden zijn typische ordegroottes en variëren per procesgeneratie en product.