Test und Prüfung
Welcher Vorteil spricht dafür, zusätzlich zu Tests, die die Logikausgänge mit Erwartungswerten vergleichen, einen IDDQ-Test durchzuführen?
- AEr findet auch Defekte wie Kurzschlüsse zwischen Leitungen (Brücken), die den Ruhestrom erhöhen, während die Logikausgänge zufällig korrekt bleiben
- BEr findet Defekte, bei denen die Signallaufzeiten bei der tatsächlichen Betriebsfrequenz zu lang sind
- CEr findet alle Defekte, ohne dass ein einziges Testmuster vorbereitet werden muss
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Antwort: A. Er findet auch Defekte wie Kurzschlüsse zwischen Leitungen (Brücken), die den Ruhestrom erhöhen, während die Logikausgänge zufällig korrekt bleiben
In einer fehlerfreien CMOS-Schaltung im Ruhezustand ist entweder der pMOS oder der nMOS gesperrt, sodass von der Versorgung nach Masse nur Leckstrom fließt. Ein Brücken- oder Gateoxid-Defekt erhöht den Ruhestrom, wenn auf seinen beiden Seiten entgegengesetzte Logikwerte anliegen; bleibt der Logikwert aber zufällig korrekt, erscheint der Chip in einem Test, der Ausgänge vergleicht, als gut. Der IDDQ-Test misst diesen Strom, um solche Defekte zu finden, und kann manchmal auch latente Defekte erfassen, die im Betrieb ausfallen könnten. Durch die Skalierung ist jedoch der Leckstrom fehlerfreier Chips gestiegen, sodass sich der defektbedingte Anstieg schwerer unterscheiden lässt.