Test et inspection
Quel avantage y a-t-il à effectuer un test IDDQ en plus des tests qui comparent les sorties logiques aux valeurs attendues ?
- AIl peut aussi détecter des défauts, comme des courts-circuits entre fils (ponts), qui augmentent le courant de repos alors que les sorties logiques restent correctes par hasard
- BIl peut détecter les défauts dans lesquels les temps de propagation des signaux sont trop longs à la fréquence de fonctionnement réelle
- CIl peut détecter tous les défauts sans préparer le moindre vecteur de test
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Réponse : A. Il peut aussi détecter des défauts, comme des courts-circuits entre fils (ponts), qui augmentent le courant de repos alors que les sorties logiques restent correctes par hasard
Dans un circuit CMOS sain au repos, soit le pMOS, soit le nMOS est bloqué, si bien que seul un courant de fuite circule de l'alimentation vers la masse. Un pont ou un défaut de l'oxyde de grille augmente le courant au repos lorsque des valeurs logiques opposées sont imposées de part et d'autre, mais si la valeur logique reste correcte par hasard, un test qui compare les sorties voit une puce bonne. Le test IDDQ mesure ce courant pour trouver ces défauts, et il peut parfois aussi repérer des défauts latents susceptibles de provoquer des pannes en service. La miniaturisation a toutefois accru le courant de fuite des puces saines, ce qui rend plus difficile de distinguer l'augmentation due à un défaut.