Test und Inspektion
Lernen Sie anhand von Multiple-Choice-Fragen die Grundlagen des Halbleitertests kennen – Wafertest, Burn-in und Scan-Test (DFT).
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Die Fragen zu diesem Thema folgen in Kürze.
Test und Inspektion: Das Wichtigste
Halbleiterprodukte durchlaufen während und nach der Fertigung mehrere Teststufen. Der Wafertest vor dem Vereinzeln findet defekte Chips, und der Endtest nach dem Gehäusen garantiert die Eigenschaften der ausgelieferten Produkte.
Burn-in, das Frühausfälle aussortiert, und Design for Testability (DFT), das Testfunktionen in die Schaltungen integriert, halten die Qualität hoch und die Testkosten niedrig.