Test und Prüfung
Welche Aussage zum Scan-Design, einer Methode des Design for Test (DFT), ist richtig?
- ADie Chipoberfläche wird mit einem optischen Mikroskop abgetastet, um Defekte zu suchen
- BBeim Test wird die Versorgungsspannung allmählich erhöht, um die Betriebsgrenze zu ermitteln
- CDie Flipflops der Schaltung werden wie ein Schieberegister verbunden, sodass sich der interne Zustand leicht setzen und beobachten lässt
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Antwort: C. Die Flipflops der Schaltung werden wie ein Schieberegister verbunden, sodass sich der interne Zustand leicht setzen und beobachten lässt
Beim Scan-Design erhält jedes Flipflop am Eingang einen Umschalt-Selektor; im Testbetrieb werden alle zu einer Kette (Scan-Kette) verbunden, sodass sich von außen beliebige Werte einschieben und interne Werte herausschieben lassen. Da der Test sequentieller Schaltungen durch den Test kombinatorischer Schaltungen ersetzt wird, können mit ATPG automatisch Muster mit hoher Fehlerabdeckung erzeugt werden. Mikroskopabtastung und Spannungsdurchlauf sind etwas anderes.