Welches Verfahren modelliert Defekte wie Kurzschlüsse oder Unterbrechungen von Transistoren im Inneren von Standardzellen auf Basis der Zellschaltung und erzeugt daraus Testmuster?

Antwort: B. Cell-Aware-Test

Herkömmliche Modelle wie Haftfehler betrachten nur die Ein- und Ausgangsanschlüsse einer Zelle. Beim Cell-Aware-Test werden aus dem Zelllayout mögliche Kurzschlüsse und Unterbrechungen von Transistoren extrahiert, jeweils auf Transistorebene simuliert und die erkennbaren Eingangskombinationen in die Mustererzeugung übernommen. Das hilft, Ausfälle im Markt durch Defekte im Zellinneren zu verringern, die mit feineren Prozessen zugenommen haben.