テスト・検査
論理の出力を期待値と比べるテストに加えて、IDDQテストを行う利点として正しいものはどれか。
- A配線どうしの短絡(ブリッジ)のように、静止時の電流は増えるが論理の出力はたまたま正しい欠陥も見つけられる
- B実際の動作周波数で、信号の伝わる遅れが大きすぎる不良を見つけられる
- Cテストパターンを1つも用意せずに、すべての欠陥を見つけられる
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正解：A. 配線どうしの短絡(ブリッジ)のように、静止時の電流は増えるが論理の出力はたまたま正しい欠陥も見つけられる
正常なCMOS回路は、静止状態ではpMOSとnMOSのどちらかがオフなので、電源からグラウンドへはリーク電流しか流れません。ブリッジやゲート酸化膜の欠陥があると、その両側に逆の論理値が設定されたときに静止時の電流が増えますが、論理の値がたまたま正しく保たれると、出力を比べるテストでは良品に見えます。IDDQテストはこの電流を測って欠陥を見つけ、使ううちに故障しうる潜在的な欠陥を捉えられることもあります。ただし微細化で正常なチップのリーク電流が大きくなり、欠陥による増加分との区別が難しくなっています。
- A. 正しい。出力に現れない欠陥を電流で見つけます。
- B. これは実速度のテスト(遅延故障のテスト)の役割です。IDDQテストは静止状態で電流を測ります。
- C. IDDQテストでも、回路の内部をいろいろな状態に設定するパターンが必要です。