Was ist IDDQ-Test?
Test, der den Ruhestrom einer CMOS-Schaltung misst und bei ungewöhnlich hohem Wert Defekte wie Brückenfehler anzeigt.
Japanische Bezeichnung: IDDQテスト
Fachgebiet: Test und Inspektion
Verwandte Begriffe
ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) BIST (integrierter Selbsttest) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Scan-Test (scan test) Stuck-at-Fehler