Wat is een voordeel van het uitvoeren van een IDDQ-test naast tests die de logische uitgangen vergelijken met verwachte waarden?

Antwoord: A. Ze kan ook defecten vinden zoals kortsluitingen tussen draden (bridges) die de ruststroom verhogen terwijl de logische uitgangen toevallig correct blijven

In een gezonde CMOS-schakeling in rust staat ofwel de pMOS ofwel de nMOS uit, zodat er van de voeding naar de massa alleen lekstroom vloeit. Een bridge of een defect in het gateoxide verhoogt de stroom in rust wanneer aan zijn twee kanten tegengestelde logische waarden worden ingesteld, maar als de logische waarde toevallig correct blijft, ziet een test die uitgangen vergelijkt een goede chip. De IDDQ-test meet deze stroom om zulke defecten te vinden, en kan soms ook latente defecten opsporen die tijdens gebruik kunnen uitvallen. Door de schaalverkleining is de lekstroom van goede chips echter toegenomen, waardoor het moeilijker wordt de toename door een defect te onderscheiden.