테스트와 검사
논리 출력을 기댓값과 비교하는 테스트에 더해 IDDQ 테스트를 수행하는 이점으로 올바른 것은?
- A배선끼리의 단락(브리지)처럼, 정지 시 전류는 늘어나지만 논리 출력은 우연히 올바른 결함도 찾아낼 수 있다
- B실제 동작 주파수에서 신호가 전달되는 지연이 너무 큰 불량을 찾아낼 수 있다
- C테스트 패턴을 하나도 준비하지 않고 모든 결함을 찾아낼 수 있다
정답과 해설 보기
정답: A. 배선끼리의 단락(브리지)처럼, 정지 시 전류는 늘어나지만 논리 출력은 우연히 올바른 결함도 찾아낼 수 있다
정상적인 CMOS 회로는 정지 상태에서 pMOS와 nMOS 중 한쪽이 오프이므로 전원에서 그라운드로는 누설 전류만 흐릅니다. 브리지나 게이트 산화막의 결함이 있으면 그 양쪽에 반대 논리값이 설정되었을 때 정지 시 전류가 늘어나지만, 논리값이 우연히 올바르게 유지되면 출력을 비교하는 테스트에서는 양품으로 보입니다. IDDQ 테스트는 이 전류를 측정하여 결함을 찾아내며, 사용하는 동안 고장 날 수 있는 잠재적 결함을 잡아낼 수도 있습니다. 다만 미세화로 정상 칩의 누설 전류가 커져, 결함에 의한 증가분과 구별하기가 어려워지고 있습니다.