Test und Prüfung
Welche Aussage zu BIST (Built-In Self-Test) ist richtig?
- AAlle Tests werden allein mit einem externen Tester durchgeführt
- BSchaltungen für den Test sind in den Chip eingebaut, und der Chip testet sich selbst
- CDas Aussehen wird mit menschlichen Augen geprüft
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Antwort: B. Schaltungen für den Test sind in den Chip eingebaut, und der Chip testet sich selbst
BIST ist ein Verfahren, bei dem Schaltungen zur Erzeugung von Testmustern und zur Auswertung der Ergebnisse im Chip integriert sind und der Chip den Test selbst ausführt. MBIST für Speicher erzeugt schnell Muster wie March-Tests, LBIST für Logikschaltungen verwendet Pseudozufallsmuster. Es verringert die Abhängigkeit von teuren Testern und die Testzeit, und im Automobilbereich bietet es den Vorteil, bei jedem Einschalten auch nach der Auslieferung eine Selbstdiagnose durchführen zu können.