ハイブリッドボンディングとマイクロバンプの違い:ピッチ・接続密度・平坦度を比較
どちらもチップどうしやチップとウエハを、多数の端子で縦につなぐ技術です。マイクロバンプは、銅の柱の先などにつけた小さなはんだを溶かして接合するので、はんだがはみ出して隣とつながらないよう間隔が必要で、ピッチは数十 µmが目安です。ハイブリッドボンディングは、はんだを使わず、平らに磨いた銅の電極と絶縁膜の面どうしを直接接合するので、ピッチを10 µm未満にでき、接続の密度を桁違いに上げられます。そのかわり、接合面にはナノメートルレベルの平坦さと清浄さが求められます。
| 項目 | ハイブリッドボンディング | マイクロバンプ |
|---|---|---|
| 接合の方法 | 銅の電極どうしと絶縁膜どうしを、面で直接接合する | 銅の柱などにつけたはんだのバンプを、加熱して接合する |
| はんだ | 使わない | 使う |
| 接続ピッチの目安 | 10 µm未満。数µmまで狭められる | 数十 µm。狭くても約20 µm程度 |
| 接続密度(1 mm²あたり) | 約1万(10 µmピッチ)〜十数万(3 µmピッチ) | 数百(40 µmピッチ)〜数千(20 µmピッチ) |
| 表面の平坦度・清浄度 | ナノメートルレベルの平坦さが必要。小さなパーティクルでも接合できないボイドができる | はんだが高さのばらつきを吸収するので、それほど厳しくない |
| チップの間 | 隙間がなく、アンダーフィルは不要 | 隙間ができるので、アンダーフィルや樹脂のフィルムで埋める |
| 主な工程 | CMPで平坦化 → 洗浄・プラズマで活性化 → 位置合わせして貼り合わせ → アニール(代表的には数百 ℃)で銅どうしを接合 | めっきでバンプを形成 → 位置合わせ → 熱圧着(TCB)やリフローで接合 → アンダーフィル |
| 接合の単位 | ウエハ対ウエハ、またはチップ対ウエハ | チップ単位(チップ対ウエハ、チップ対チップ)が中心 |
| 電気特性 | 接合部が極めて短く、寄生容量が小さい。1ビットの転送に必要なエネルギーが小さい | バンプの分だけ寄生容量が大きく、ハイブリッドボンディングより不利 |
| 主な用途 | 積層型のイメージセンサ、プロセッサの上へのキャッシュ用SRAMの積層など | HBMのDRAMの積層、インターポーザの上のチップの接続など |
数値は代表的な目安で、世代や製品によって異なります。