氧化與擴散
關於使用氧自由基的自由基氧化,下列特徵何者正確?
- A即使在較低溫度也能製作優質氧化層,且晶面方向造成的氧化速率差異也小
- B必定需要 1200 ℃ 以上的高溫
- C氧化層的厚度會因晶面方向而大幅不同
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正確答案:A. 即使在較低溫度也能製作優質氧化層,且晶面方向造成的氧化速率差異也小
以電漿等產生的氧自由基反應性高,因此即使在 400~600 ℃ 左右的較低溫度,也能形成接近熱氧化的優質氧化層。與一般熱氧化相比,晶面方向造成的氧化速率差異與轉角部分的氧化延遲都較小,且氮化膜也能被氧化,因此被用於 FinFET 鰭片與 3D NAND 這類立體結構,以及熱預算嚴格的製程之氧化。