DFT(テスト容易化設計)란?
てすとよういかせっけい
スキャンチェーンやBISTなど、テストしやすくする仕組みをあらかじめ回路に組み込む設計手法。
일본어 명칭: DFT(テスト容易化設計)
분야: 테스트와 검사
관련 용어
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) BIST(組み込み自己テスト) IDDQテスト KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン
てすとよういかせっけい
スキャンチェーンやBISTなど、テストしやすくする仕組みをあらかじめ回路に組み込む設計手法。
일본어 명칭: DFT(テスト容易化設計)
분야: 테스트와 검사
故障検出率(フォールトカバレッジ) 縮退故障 ATE(自動試験装置) ATPG(自動テストパターン生成) BIST(組み込み自己テスト) IDDQテスト KGD(ノウングッドダイ) ウエハテスト(プローブテスト) スキャンテスト バーンイン