Génération automatique, à partir de la netlist du circuit, de vecteurs de test destinés à détecter les fautes. Utilisée avec la conception à base de scan.
Nom japonais: ATPG(自動テストパターン生成)
« ATPG (génération automatique de vecteurs de test) » apparaît dans 7 questions d'entraînement réparties sur 4 thèmes, dont Test et inspection, Métrologie et analyse, Rendement et contrôle qualité.
Domaine: Test et inspection
Réponse : C. Relier les bascules du circuit en registre à décalage afin de faciliter le positionnement et l'observation de l'état interne
Dans la conception par scan, un multiplexeur de sélection est ajouté à l'entrée de chaque bascule ; en mode test, les bascules sont chaînées (chaîne de scan), ce qui permet de charger par décalage une valeur quelconque depuis l'extérieur et de relire par décalage les valeurs internes. Le test d'un circuit séquentiel se ramène ainsi au test d'un circuit combinatoire, et l'ATPG peut générer automatiquement des vecteurs à forte couverture de fautes. Cela n'a rien à voir avec un balayage au microscope ou un balayage en tension.
Réponse : B. Une faute dans laquelle la valeur d'une ligne de signal reste figée à 0 ou à 1
Le modèle de collage suppose qu'une ligne de signal du circuit est figée en permanence à 0 (collage à 0) ou à 1 (collage à 1) ; pour n lignes de signal, 2n fautes sont considérées. Malgré sa simplicité, il représente de nombreux défauts physiques tels que les courts-circuits et les coupures, et constitue la base de l'ATPG et de l'évaluation de la couverture de fautes. Les fautes de ralentissement du signal relèvent du modèle de faute de délai, et l'élévation de température n'est pas un modèle de faute.
Le test d'un circuit séquentiel se ramène ainsi au test d'un circuit combinatoire, et l'ATPG peut générer automatiquement des vecteurs à forte couverture de fautes.
Quelle description de la conception par scan, l'une des tec…Malgré sa simplicité, il représente de nombreux défauts physiques tels que les courts-circuits et les coupures, et constitue la base de l'ATPG et de l'évaluation de la couverture de fautes.
Quelle description du modèle de faute de collage (stuck-at)…L'ATPG est une technique qui génère automatiquement à partir de la netlist, sur la base d'un modèle de faute tel que le collage, des vecteurs d'entrée permettant de propager chaque faute jusqu'à une sortie pour la détecter.
Comment appelle-t-on la génération automatique, à partir de…Les vecteurs détectant efficacement les fautes sont générés automatiquement par ATPG ou convertis à partir des simulations de vérification réalisées lors de la conception.
Comment appelle-t-on l'ensemble formé par la séquence de si…L’ATPG génère des motifs de test, l’APC est la commande automatique des procédés.
Quelle fonction photographie au SEM les défauts détectés en…APC (contrôle avancé des procédés) DFT (conception en vue du test) Multiplexeur Bascule (flip-flop) Circuit séquentiel Circuit combinatoire Netlist DRC (vérification des règles de conception) Placement-routage STA (analyse temporelle statique)