Testen en inspectie

Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor het detecteren van fouten uit de netlijst van een schakeling?

  1. ADRC
  2. BATPG (Automatic Test Pattern Generation)
  3. CCTS
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. ATPG (Automatic Test Pattern Generation)

ATPG is een techniek waarmee op basis van een foutmodel, zoals stuck-at-fouten, automatisch uit de netlijst invoerpatronen worden gegenereerd die elke fout tot de uitgang doorgeven en zo detecteerbaar maken. In combinatie met scanontwerp kunnen zelfs voor schakelingen met honderden miljoenen gates efficiënt patronen met een hoge foutdekking worden gemaakt. DRC is de controle van de ontwerpregels van de layout en CTS de synthese van de klokboom; beide zijn ontwerpstappen.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Testen en inspectie

  1. Hoe heet de test waarbij de voedingsstroom van een CMOS-schakeling in rusttoestand wordt gemeten om defecten zoals bridging-fouten te detecteren?
  2. Wat is het belangrijkste gebruik van boundary scan volgens IEEE 1149.1 (JTAG)?
  3. Welk apparaat voert in de eindtest na het verpakken, in combinatie met de tester, ICs automatisch toe en sorteert ze op basis van het testresultaat?
  4. Hoe heet een tweedimensionale grafiek waarin de slaag-/faalresultaten worden samengevat terwijl voorwaarden zoals voedingsspanning en bedrijfsfrequentie worden gevarieerd?
  5. Welke volgorde is juist voor de testflow van een gangbaar halfgeleiderproduct?

Vergelijkingen bij dit onderwerp