Testen en inspectie
Welke beschrijving van het stuck-at-foutmodel (stuck-at fault) dat bij de test van logische schakelingen wordt gebruikt, is juist?
- AEen fout waarbij het signaal vertraagd wordt doorgegeven
- BEen fout waarbij de waarde van een signaallijn vastligt op 0 of 1
- CEen fout waarbij de temperatuur van de chip stijgt
Antwoord en toelichting tonen
Antwoord: B. Een fout waarbij de waarde van een signaallijn vastligt op 0 of 1
Het stuck-at-foutmodel gaat uit van fouten waarbij een signaallijn in de schakeling altijd 0 (stuck-at-0) of altijd 1 (stuck-at-1) is; bij n signaallijnen zijn er 2n fouten. Het model is eenvoudig, maar kan veel fysieke defecten zoals kortsluitingen en onderbrekingen vertegenwoordigen en vormt de basis van ATPG en de beoordeling van de foutdekking. Fouten waarbij een signaal trager wordt, worden met het vertragingsfoutmodel behandeld; temperatuurstijging is geen foutmodel.