Aandeel van de veronderstelde fouten dat met dat testpatroon kan worden gedetecteerd. Hoe hoger, hoe kleiner de kans dat defecte producten worden gemist.
Japanse benaming: 故障検出率(フォールトカバレッジ)
“Foutdekking (fault coverage)” komt voor in 5 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Testen en inspectie.
Vakgebied: Testen en inspectie
Antwoord: A. Het aandeel van de aangenomen fouten dat door de test kan worden gedetecteerd
De foutdekking is het aandeel van alle gemodelleerde fouten dat door de testpatronen kan worden gedetecteerd. Het aandeel gemiste defecten wordt met de yield Y en de foutdekking T geschat als DL = 1 − Y^(1−T); zelfs bij Y = 0,5 en T = 99 % is dit circa 0,7 % (circa 7000 DPPM). Daarom worden bijvoorbeeld voor auto's waarden ruim boven 99 % geëist. Het is een andere maat dan het defectpercentage van geleverde producten of de yield zelf.
De foutdekking is het aandeel van alle gemodelleerde fouten dat door de testpatronen kan worden gedetecteerd.
Welke definitie van de foutdekking (fault coverage) van een…De test van een sequentiële schakeling wordt hierdoor vervangen door de test van een combinatorische schakeling, zodat ATPG automatisch patronen met een hoge foutdekking kan genereren.
Welke beschrijving van scanontwerp, een vorm van Design for…Het model is eenvoudig, maar kan veel fysieke defecten zoals kortsluitingen en onderbrekingen vertegenwoordigen en vormt de basis van ATPG en de beoordeling van de foutdekking.
Welke beschrijving van het stuck-at-foutmodel (stuck-at fau…In combinatie met scanontwerp kunnen zelfs voor schakelingen met honderden miljoenen gates efficiënt patronen met een hoge foutdekking worden gemaakt.
Hoe heet het automatisch genereren van testpatronen voor he…De structurele test gaat uit van foutmodellen voor de structuur van de schakeling en detecteert met scan en dergelijke efficiënt fouten in elk onderdeel; de foutdekking kan hierbij numeriek worden beheerd.
Welke combinatie van namen is juist voor enerzijds de test …ATPG (automatic test pattern generation) Opbrengst (yield) DFT (design for testability) Sequentiële schakeling Combinatorische schakeling DRC (design rule check) ATE (automatic test equipment) BIST (built-in self-test) Burn-in IDDQ-test