Welke methode verwijdert chips als defect die weliswaar binnen de specificatie vallen, maar waarvan de waarde sterk afwijkt van de verdeling van hetzelfde lot?

Antwoord: B. PAT (Part Average Testing)

PAT (Part Average Testing) is een methode waarbij de verdeling van de meetwaarden per lot of wafer wordt bepaald en chips die ook binnen de specificatie als uitschieter meer dan bijvoorbeeld ±6σ van het gemiddelde afwijken, worden verwijderd. Chips die uitschieters zijn, hebben waarschijnlijk latente defecten en vallen later gemakkelijker uit. Het wordt gebruikt om de kwaliteit van halfgeleiders voor auto's te verbeteren en is ook vastgelegd in de richtlijnen van de AEC (Automotive Electronics Council). ATPG is patroongeneratie en APC is procesregeling.