Hoe heet de combinatie van de reeks 0- en 1-signalen die achtereenvolgens aan de ingangen van de chip worden aangelegd en de bijbehorende verwachte waarden?

Antwoord: B. Testpatroon (testvector)

Een testpatroon (testvector) bundelt de waarden van de signalen die op elk tijdstip aan de ingangen van de chip worden aangelegd en de verwachte waarden die op dat moment aan de uitgang moeten verschijnen. Patronen die fouten efficiënt detecteren, worden automatisch met ATPG gegenereerd of omgezet uit simulaties voor verificatie tijdens het ontwerp. Omdat langere patronen de testtijd verlengen, worden ze zo geoptimaliseerd dat met weinig patronen veel fouten worden gedetecteerd.