첨단 트랜지스터(FinFET과 GAA)

MoS2 등 2차원 재료를 채널로 사용하는 트랜지스터에서 원자층 증착(ALD)으로 High-k 게이트 절연막을 균일하게 성막하기 어려운 주된 이유로 올바른 것은?

  1. A2차원 재료는 금속이므로 절연막과 반응해 버리기 때문에
  2. B표면에 댕글링 본드가 거의 없어, ALD 원료가 흡착하여 막이 성장하기 시작하는 자리가 적기 때문에
  3. C2차원 재료의 표면은 요철이 커서 ALD 원료가 깊은 곳까지 닿지 않기 때문에
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정답: B. 표면에 댕글링 본드가 거의 없어, ALD 원료가 흡착하여 막이 성장하기 시작하는 자리가 적기 때문에

2차원 재료는 층 표면에 남는 결합손(댕글링 본드)이 없어, 1 nm 이하의 두께에서도 이동도가 잘 떨어지지 않는다는 장점이 있습니다. 그러나 같은 성질 때문에 ALD 원료가 표면에 화학적으로 흡착하기 어렵고, 막은 결함이나 결정립계 등에서 섬 모양으로 성장하여 얇고 균일한 절연막이 되기 어렵습니다. 플라즈마를 사용하는 방법은 막을 손상시키기 쉬우므로, 씨앗이 되는 얇은 층을 먼저 만드는 등의 방법이 연구되고 있습니다.

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