Geavanceerde transistoren (FinFET, GAA)

Wat is bij transistors met een kanaal van 2D-materialen zoals MoS2 de belangrijkste reden dat het moeilijk is om met atomic layer deposition (ALD) een uniform high-k-gatediëlektricum af te zetten?

  1. A2D-materialen zijn metalen en reageren met het diëlektricum
  2. BHun oppervlak heeft bijna geen dangling bonds, zodat er weinig plaatsen zijn waar ALD-precursors kunnen adsorberen en de groei van de laag kan beginnen
  3. CHet oppervlak van 2D-materialen is zeer ruw, zodat ALD-precursors diepe gebieden niet bereiken
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. Hun oppervlak heeft bijna geen dangling bonds, zodat er weinig plaatsen zijn waar ALD-precursors kunnen adsorberen en de groei van de laag kan beginnen

Omdat 2D-materialen geen vrije bindingen (dangling bonds) aan het oppervlak van hun lagen hebben, behouden ze hun mobiliteit ook bij een dikte onder 1 nm. Door dezelfde eigenschap adsorberen ALD-precursors echter nauwelijks chemisch aan het oppervlak, zodat lagen als eilandjes beginnen te groeien vanuit defecten en korrelgrenzen en er geen dun, uniform diëlektricum ontstaat. Methoden met plasma beschadigen de laag gemakkelijk, dus er worden oplossingen onderzocht zoals eerst een dunne kiemlaag vormen.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Verwante rekentools

Meer vragen over Geavanceerde transistoren (FinFET, GAA)

  1. Waarom worden van de 2D-materialen vooral overgangsmetaaldichalcogeniden zoals MoS2, en niet grafeen, onderzocht als kanaal voor logische transistors?
  2. Wat is de belangrijkste reden dat monolithische 3D-integratie lagen veel dichter met elkaar kan verbinden dan 3D-packaging die afzonderlijk gemaakte chips aan elkaar bondt?
  3. Welke uitspraak over de verbinding met de onderste van de twee gestapelde transistors in een CFET (complementaire FET) is juist?
  4. Welke uitspraak over een structureel kenmerk van de FinFET is juist?
  5. Welke uitspraak over een GAA-transistor (gate-all-around) is juist?

Vergelijkingen bij dit onderwerp