Composant pré-conçu et vérifié, tel qu'une porte logique ou une bascule. Les cellules ont une hauteur commune et sont disposées par placement-routage automatique pour construire de grands circuits.
Nom japonais: スタンダードセル
« Cellule standard » apparaît dans 2 questions d'entraînement réparties sur 2 thèmes, dont Transistors avancés (FinFET et GAA), Test et inspection.
Réponse : A. La surface de la cellule diminue et la densité d'intégration augmente
La hauteur d'une cellule standard s'exprime par le nombre d'interconnexions au pas minimal pouvant passer au-dessus (nombre de pistes) : par exemple, 6 pistes à un pas minimal de 28 nm font environ 170 nm. Réduire le nombre de pistes abaisse la cellule et permet de réaliser le même circuit sur une surface plus petite. Les nœuds avancés sont passés d'environ 7,5T à 6T puis 5T, mais la réduction de la marge de routage dans la cellule et du nombre d'ailettes (de feuillets) exige de surveiller la congestion du routage et la baisse du courant.
Réponse : B. Test cell-aware
Les modèles traditionnels comme le collage ne considèrent que les broches d'entrée/sortie des cellules. Le test cell-aware extrait du layout de la cellule les courts-circuits et circuits ouverts de transistors possibles, simule chacun au niveau transistor et intègre à la génération de vecteurs les combinaisons d'entrées permettant de les détecter. Il contribue à réduire les défaillances sur le marché dues aux défauts internes des cellules, devenus plus fréquents dans les procédés fins.
La hauteur d'une cellule standard s'exprime par le nombre d'interconnexions au pas minimal pouvant passer au-dessus (nombre de pistes) : par exemple, 6 pistes à un pas minimal de 28 nm font environ 170 nm.
Lorsque la hauteur d'une cellule standard est exprimée en n…Clock gating DRC (vérification des règles de conception) FPGA LVS Netlist PDK (kit de conception de procédé) Placement-routage RTL (niveau transfert de registres) SPICE STA (analyse temporelle statique)