Quelle méthode modélise, à partir du circuit de la cellule, les défauts internes d'une cellule standard tels que les courts-circuits et circuits ouverts de transistors, pour générer des vecteurs de test ?

Réponse : B. Test cell-aware

Les modèles traditionnels comme le collage ne considèrent que les broches d'entrée/sortie des cellules. Le test cell-aware extrait du layout de la cellule les courts-circuits et circuits ouverts de transistors possibles, simule chacun au niveau transistor et intègre à la génération de vecteurs les combinaisons d'entrées permettant de les détecter. Il contribue à réduire les défaillances sur le marché dues aux défauts internes des cellules, devenus plus fréquents dans les procédés fins.