Français
Menu

Test et inspection

Comment appelle-t-on l'ensemble formé par la séquence de signaux 0 et 1 appliqués successivement aux entrées d'une puce lors du test et par les valeurs attendues correspondantes ?

  1. ARecette
  2. BVecteurs de test (test patterns)
  3. CPhotomasque
Afficher la réponse et l'explication

Réponse : B. Vecteurs de test (test patterns)

Les vecteurs de test regroupent, pour chaque instant, les valeurs des signaux appliqués aux entrées de la puce et les valeurs attendues en sortie à ce moment. Les vecteurs détectant efficacement les fautes sont générés automatiquement par ATPG ou convertis à partir des simulations de vérification réalisées lors de la conception. Plus les vecteurs sont longs, plus le temps de test augmente ; ils sont donc optimisés pour détecter un maximum de fautes avec un minimum de vecteurs.

S'entraîner sur ce thème Retour au thème

Autres questions sur Test et inspection

  1. Comment appelle-t-on les motifs dédiés, placés par exemple entre les puces du wafer (chemins de découpe), qui servent à mesurer les caractéristiques des transistors, résistances, etc. pour évaluer le procédé ?
  2. Comment appelle-t-on le contrôle qui, sur un wafer ayant terminé le front-end, mesure la tension de seuil, la résistance carrée, etc. des TEG pour vérifier que le procédé est conforme ?
  3. Quel composant d'un outillage de test reliant le testeur à l'IC utilise de fines aiguilles télescopiques à ressort pour assurer un contact fiable avec les broches ?
  4. Comment appelle-t-on la carte imprimée, montée sur la tête de test du testeur, qui porte le support de l'IC et les composants périphériques et achemine les signaux jusqu'à l'IC pour chaque produit ?
  5. Quel est le principal avantage des cartes à pointes de type vertical, dont les pointes sont disposées perpendiculairement aux plots ?