Test et inspection
Quelle description de la conception par scan, l'une des techniques de conception en vue du test (DFT), est correcte ?
- ABalayer la surface de la puce au microscope optique pour rechercher des défauts
- BAugmenter progressivement la tension d'alimentation pendant le test pour déterminer les limites de fonctionnement
- CRelier les bascules du circuit en registre à décalage afin de faciliter le positionnement et l'observation de l'état interne
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Réponse : C. Relier les bascules du circuit en registre à décalage afin de faciliter le positionnement et l'observation de l'état interne
Dans la conception par scan, un multiplexeur de sélection est ajouté à l'entrée de chaque bascule ; en mode test, les bascules sont chaînées (chaîne de scan), ce qui permet de charger par décalage une valeur quelconque depuis l'extérieur et de relire par décalage les valeurs internes. Le test d'un circuit séquentiel se ramène ainsi au test d'un circuit combinatoire, et l'ATPG peut générer automatiquement des vecteurs à forte couverture de fautes. Cela n'a rien à voir avec un balayage au microscope ou un balayage en tension.