Quelle méthode écarte comme défectueuses les puces qui, bien que dans la spécification au test, présentent des valeurs s'écartant fortement de la distribution du même lot ?

Réponse : B. PAT (Part Average Testing)

Le PAT (Part Average Testing) établit la distribution des valeurs mesurées par lot ou par wafer et écarte les puces aberrantes, par exemple au-delà de ±6σ de la moyenne, même si elles sont dans la spécification. En effet, les puces aberrantes ont une forte probabilité de porter des défauts latents et de tomber en panne ultérieurement. Il est utilisé pour améliorer la qualité des semi-conducteurs automobiles et figure dans les lignes directrices de l'AEC (Automotive Electronics Council). L'ATPG sert à la génération de vecteurs et l'APC au contrôle des procédés.