ALD vs CVD : le dépôt de couches atomiques comparé
L'ALD (dépôt de couches atomiques) est une forme particulière de CVD dans laquelle les gaz précurseurs sont injectés par impulsions, un à la fois, et chaque impulsion ne réagit que jusqu'à ce que la surface soit recouverte. Le film croît donc d'une couche atomique par cycle, avec un contrôle parfait de l'épaisseur et une excellente couverture des structures très profondes. La contrepartie est la vitesse : l'ALD est bien plus lente que la CVD classique, elle est donc réservée aux films les plus minces et les plus critiques.
| Critère | ALD | CVD |
|---|---|---|
| Principe de fonctionnement | Les précurseurs sont injectés à tour de rôle, séparés par des purges. Chaque réaction est autolimitée, si bien qu'un cycle ajoute environ une couche atomique | Les précurseurs arrivent ensemble et réagissent en continu à la surface |
| Contrôle de l'épaisseur | À l'échelle atomique, fixé par le nombre de cycles | Fixé par la durée et la vitesse de dépôt, donc moins précis |
| Conformité | Excellente, même dans des trous et tranchées très profonds et étroits | Bonne, mais les structures profondes peuvent se refermer avant d'être remplies |
| Vitesse de dépôt | Lente : une fraction de nanomètre par cycle | Rapide : de nombreux nanomètres par minute, voire plus |
| Uniformité et qualité | Très uniforme, dense et avec peu de trous d'épingle | Bonne uniformité |
| Température | Souvent basse (environ 100 à 350 °C) | Large plage, souvent plus élevée (plus basse en CVD plasma) |
| Débit | Faible par wafer (les équipements batch aident) | Plus élevé |
| Épaisseur typique | Environ 1 à 50 nm | De quelques dizaines de nanomètres à quelques micromètres |
| Usages typiques | Diélectriques de grille high-k (comme le HfO2), barrières minces, espaceurs, revêtements dans les structures 3D | Films isolants épais, polysilicium, nitrure de silicium, plugs en tungstène |
Les valeurs indiquées sont des ordres de grandeur typiques et varient selon la génération de procédé et le produit.