Gravure humide vs gravure sèche : les principales différences en fabrication de semi-conducteurs
La gravure enlève de la matière du wafer pour former des motifs. La gravure humide dissout le matériau dans un produit chimique liquide ; elle est simple, rapide et très sélective, mais elle grave généralement aussi latéralement qu'en profondeur (isotrope). La gravure sèche utilise un plasma de gaz réactifs dans une chambre sous vide, et les ions peuvent la rendre fortement directionnelle (anisotrope), ce qui est indispensable pour découper les motifs étroits et verticaux des puces modernes.
| Critère | Gravure humide | Gravure sèche |
|---|---|---|
| Milieu | Produits chimiques liquides, comme le HF pour l'oxyde, l'acide phosphorique chaud pour le nitrure et le KOH pour le silicium | Plasma de gaz réactifs dans une chambre sous vide, comme en RIE |
| Directionnalité | Généralement isotrope : elle grave aussi latéralement et sous-grave le masque (le KOH sur silicium fait exception en suivant les plans cristallins) | Peut être très anisotrope, avec des flancs quasi verticaux grâce au bombardement ionique et à la passivation des flancs |
| Sélectivité | Généralement très élevée, car la chimie est spécifique | Plus faible, et ajustée par la chimie des gaz et les conditions du plasma |
| Plus petits motifs | Limités par la sous-gravure ; utilisée pour les grands motifs et le retrait de films | Indispensable pour les motifs à l'échelle nanométrique |
| Débit | Élevé : de nombreux wafers peuvent être traités ensemble dans un bain | Plus faible : généralement un wafer à la fois |
| Contrôle du procédé | Dépend de la température du bain, de la concentration et du temps | Précis, avec détection de fin d'attaque à partir de l'émission du plasma |
| Dommages | Aucun dommage dû au plasma | Dommages plasma et charges électriques possibles (effet d'antenne) |
| Équipement et déchets | Équipement simple, mais déchets chimiques liquides | Équipement sous vide complexe et traitement des gaz d'échappement, d'où un coût plus élevé |
| Usages typiques | Nettoyage des wafers, retrait de films (oxyde, nitrure), gravure de volume du silicium pour les MEMS | Structuration des grilles, contacts, tranchées et vias dans les circuits intégrés avancés |
Les valeurs indiquées sont des ordres de grandeur typiques et varient selon la génération de procédé et le produit.