Was ist FIB (fokussierter Ionenstrahl)?

Gerät, das mit einem fein fokussierten Ionenstrahl Material abträgt oder abscheidet. Es dient zum Anfertigen von Querschnitten winziger Bereiche, zur Präparation dünner TEM-Proben und zur Schaltungsänderung.

Japanische Bezeichnung: FIB(集束イオンビーム)

Fachgebiet: Messtechnik und Analyse

Vergleiche mit diesem Begriff

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