LPCVDとPECVDの違い:温度・膜質・段差被覆性・応力・用途を比較
どちらも気体の原料を反応させて膜をつくるCVDですが、反応のエネルギーの与え方が違います。LPCVDは減圧した炉の中で、600〜800 ℃程度の熱だけで反応させるので、緻密で水素の少ない膜が、段差にも均一につきます。PECVDはプラズマで原料ガスを分解するので、300〜400 ℃程度の低い温度で成膜でき、配線を形成した後の工程でも使えます。ただし膜に水素が多く含まれ、密度は低めになります。
| 項目 | LPCVD | PECVD |
|---|---|---|
| 反応のエネルギー | 熱だけ | プラズマ(高周波の放電)で原料ガスを分解・活性化する |
| 温度(代表的な範囲) | 600〜800 ℃程度 | 300〜400 ℃程度 |
| 圧力(代表的な範囲) | 数十〜数百 Pa | 数百 Pa程度 |
| 処理の方式 | 縦型炉のバッチ処理。100枚以上のウエハを並べて一度に成膜する | 枚葉式が主流。シャワーヘッドの電極の下でウエハを1枚ずつ処理する |
| 膜質 | 緻密で、組成が化学量論に近い。エッチング速度は遅い | 密度が低めで、組成がずれやすい。エッチング速度は速い |
| 水素の含有量(窒化膜の例) | 数%以下 | Si-HやN-Hの形で10〜30%程度 |
| 段差被覆性 | 表面反応律速なので、段差にも均一に近い厚さでつく | LPCVDより劣ることが多い。原料や条件しだいで改善できる |
| 膜の応力 | 窒化膜は約1 GPaの大きな引っ張り応力。厚くすると割れやすい | 高周波と低周波の電力の比などで、圧縮から引っ張りまで調整できる |
| スループット | 1回の処理は昇温・降温を含めて長いが、多数枚を同時に処理する | 成膜速度が速く、1枚あたりの処理時間が短い |
| 使える工程 | 配線を形成する前(高温に耐える段階) | 配線を形成した後でも使える |
| 主な膜と用途 | ポリシリコン、LOCOSやSTIのマスクやスペーサの窒化膜、TEOS酸化膜 | 層間絶縁膜、パッシベーション膜、銅の拡散防止膜、SiONの反射防止膜、ハードマスク |
数値は代表的な目安で、世代や製品によって異なります。