量測與分析

由成膜前後晶圓翹曲的變化來求膜應力時,使用的關係式是下列何者?

  1. A布拉克方程式
  2. B斯托尼方程式
  3. C普雷斯頓方程式
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正確答案:B. 斯托尼方程式

斯托尼(Stoney)方程式如 σ=Es·hs²/(6(1−νs)hf)×(1/R−1/R0) 所示,是由基板的楊氏模數Es、帕松比νs、厚度hs,以及膜厚hf和成膜前後晶圓的曲率變化來求膜應力的式子。其便利之處在於不需知道膜的彈性常數,以雷射反射量測晶圓的翹曲即可評估應力。布拉克方程式(Black's equation)是電遷移的式子,普雷斯頓方程式(Preston's equation)是CMP研磨速率的式子。

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