量測與分析
利用照射電子束時因充電差異而產生的亮度差,來偵測接觸窗導通不良等的檢測是下列何者?
- AX光繞射(XRD)
- B電位對比(電壓對比)檢測
- CX光反射率法(XRR)
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正確答案:B. 電位對比(電壓對比)檢測
照射電子束時,與基板等在電性上相連的接觸窗,電荷會逸散而不帶電;斷線而浮接的接觸窗則會帶電。由於帶電的差異會使射出的二次電子量改變,便以亮度差的形式呈現。利用這種電位對比,可偵測從表面看不見的接觸窗開口不良與配線斷線,並以電子束檢測設備用於量產線。
量測與分析
正確答案:B. 電位對比(電壓對比)檢測
照射電子束時,與基板等在電性上相連的接觸窗,電荷會逸散而不帶電;斷線而浮接的接觸窗則會帶電。由於帶電的差異會使射出的二次電子量改變,便以亮度差的形式呈現。利用這種電位對比,可偵測從表面看不見的接觸窗開口不良與配線斷線,並以電子束檢測設備用於量產線。