Nederlands
Menu

Wat is HAST (highly accelerated stress test)?

Test die in stoom onder druk bij hoge vochtigheid en temperaturen boven 100 °C een biasspanning aanlegt om de vochtbestendigheid snel te beoordelen. Zo geldt bijvoorbeeld 96 uur bij 130 °C/85% RV als gelijkwaardig aan 1000 uur temperatuur-vochtigheid-biastest (THB) bij 85 °C/85% RV.

Japanse benaming: HAST(高度加速ストレス試験)

“HAST (highly accelerated stress test)” komt voor in 4 oefenvragen uit 2 onderwerpen, bijv. Betrouwbaarheid, Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid.

Vakgebied: Halfgeleiders voor auto's en functionele veiligheid

Nu oefenen: vragen over HAST (highly accelerated stress test)

Wat is de belangrijkste reden dat bij kwalificatietests van IC's voor auto's in plaats van de temperatuur-vochtigheid-biastest (THB), die 1000 uur bij 85 °C/85%RH wordt uitgevoerd, soms HAST (een test waarbij in waterdamp onder druk bij circa 130 °C/85%RH een bias wordt aangelegd) wordt gebruikt?

  1. ADefecten zoals corrosie door binnendringend vocht worden versneld, waardoor een test van 1000 uur kan worden ingekort tot circa 100 uur
  2. BOmdat dan niet defecten door vocht, maar soft errors door kosmische straling kunnen worden beoordeeld
  3. COmdat bij hogere temperatuur het vocht verdwijnt, zodat de levensduur in droge toestand kan worden beoordeeld
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Defecten zoals corrosie door binnendringend vocht worden versneld, waardoor een test van 1000 uur kan worden ingekort tot circa 100 uur

HAST (Highly Accelerated Stress Test) is een methode waarbij bij temperaturen boven 100 °C druk wordt aangelegd en onder behoud van een hoge vochtigheid wordt getest. Door temperatuur en waterdampspanning te verhogen bereikt vocht sneller via de kunststof van de behuizing de chip, zodat corrosie van elektroden, toename van lekstroom enzovoort kunnen worden versneld. Zo is het gebruikelijk om bij 130 °C/85%RH in circa 96 uur een beoordeling uit te voeren die overeenkomt met 1000 uur bij 85 °C/85%RH. Het heeft niets te maken met de beoordeling van soft errors of van een droge toestand.

Welke storing wordt bij de test met hoge temperatuur, hoge vochtigheid en voorspanning (THB en HAST) hoofdzakelijk beoordeeld?

  1. ASoft errors door kosmische straling
  2. BVertraging van de klok
  3. CCorrosie van elektroden en toename van de lekstroom door binnendringend water
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: C. Corrosie van elektroden en toename van de lekstroom door binnendringend water

Als in een omgeving met hoge temperatuur en hoge vochtigheid spanning wordt aangelegd, treden door in de behuizing gedrongen water en onzuiverheidsionen corrosie van aluminium pads en ionenmigratie op, wat leidt tot meer lekstroom en onderbrekingen. THB duurt ca. 1000 uur bij 85 °C/85 % RV, en HAST versnelt het binnendringen van water met onder druk gezette waterdamp van ca. 130 °C en beoordeelt de vochtbestendigheid in een korte tijd van ca. 100 uur. Soft errors en klokvertraging worden met andere tests onderzocht.

“HAST (highly accelerated stress test)” in de toelichting

Vragen met “HAST (highly accelerated stress test)” (4)

  1. Wat is de belangrijkste reden dat bij kwalificatietests van IC's voor auto's in plaats van de temperatuur-vochtigheid-biastest (THB), die 1000 uur bij 85 °C/85%RH wordt uitgevoerd, soms HAST (een test waarbij in waterdamp onder druk bij circa 130 °C/85%RH een bias wordt aangelegd) wordt gebruikt?
  2. Welke storing wordt bij de test met hoge temperatuur, hoge vochtigheid en voorspanning (THB en HAST) hoofdzakelijk beoordeeld?
  3. Welke combinatie van benamingen is juist voor de ESD-testmodellen “ontlading wanneer een opgeladen persoon een IC-aansluiting aanraakt” en “ontlading wanneer de IC zelf is opgeladen en een aansluiting metaal raakt”?
  4. Welk model wordt vaak gebruikt om bij het schatten van de werkelijke levensduur uit resultaten van tests met hoge temperatuur en hoge vochtigheid de invloed van vochtigheid als macht van de relatieve vochtigheid uit te drukken?

Verwante termen

Via ESD (elektrostatische ontlading) HBM (high bandwidth memory) TDDB (time-dependent dielectric breakdown) NBTI AEC-Q100 ASIL (Automotive Safety Integrity Level) CAN-bus Diagnostische dekking ECU (elektronische regeleenheid)

Naar de woordenlijst