車載半導体と機能安全

車載用ICの認定試験で、85 ℃・85%RHで1000時間行う高温高湿バイアス試験(THB)の代わりに、HAST(130 ℃・85%RH程度の加圧した水蒸気中でバイアスをかける試験)が使われることがある主な理由はどれか。

  1. A湿気の侵入による腐食などの故障を加速し、1000時間かかる試験を100時間程度に短縮できるため
  2. B水分による故障ではなく、宇宙線によるソフトエラーを評価できるようになるため
  3. C温度を上げると湿気が抜けるので、乾燥した状態での寿命を評価できるため
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正解:A. 湿気の侵入による腐食などの故障を加速し、1000時間かかる試験を100時間程度に短縮できるため

HAST(Highly Accelerated Stress Test)は、100 ℃を超える温度で圧力を加え、高い湿度を保ったまま試験する方法です。温度と水蒸気圧を上げることで水分がパッケージの樹脂を通ってチップに届くのが速くなり、電極の腐食やリーク電流の増加などを加速できます。例えば130 ℃・85%RHでは96時間程度で、85 ℃・85%RHの1000時間に相当する評価をするのが一般的です。ソフトエラーや乾燥状態の評価とは関係ありません。

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