車載半導体と機能安全
車載用ICの認定試験で、85 ℃・85%RHで1000時間行う高温高湿バイアス試験(THB)の代わりに、HAST(130 ℃・85%RH程度の加圧した水蒸気中でバイアスをかける試験)が使われることがある主な理由はどれか。
- A湿気の侵入による腐食などの故障を加速し、1000時間かかる試験を100時間程度に短縮できるため
- B水分による故障ではなく、宇宙線によるソフトエラーを評価できるようになるため
- C温度を上げると湿気が抜けるので、乾燥した状態での寿命を評価できるため
車載半導体と機能安全
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