スタンダードセルの内部のトランジスタの短絡や開放などの欠陥を、セルの回路をもとにモデル化してテストパターンを生成する手法はどれか。

正解：B. セルアウェアテスト

従来の縮退故障などのモデルは、セルの入出力の端子だけに注目していました。セルアウェアテストでは、セルの内部のトランジスタレベルの欠陥をシミュレーションで調べ、それを検出するパターンを生成します。微細なプロセスで増えたセル内部の欠陥による市場不良を減らすのに役立ちます。

• A. 外観検査では内部の電気的な欠陥は見つけられません。
• B. 正しい。セル内部の欠陥をモデル化する手法です。
• C. IDDQテストは電源電流で欠陥を検出しますが、セル内部の欠陥のモデル化とは別の手法です。