Wat is High-NA EUV?

EUV-belichtingsapparatuur van de volgende generatie met een hogere resolutie, doordat de numerieke apertuur (NA) van de projectieoptiek is vergroot van 0,33 bij het gangbare EUV naar 0,55.

Japanse benaming: High-NA EUV

“High-NA EUV” komt voor in 3 oefenvragen uit 1 onderwerpen, bijv. Lithografie.

Vakgebied: Lithografie

Nu oefenen: vragen over High-NA EUV

Welke eigenschap van „High-NA EUV”, ontwikkeld als volgende generatie EUV-belichtingsapparatuur, is juist?

  1. ADe numerieke apertuur van het projectie-optiek is van 0,33 naar 0,55 vergroot, waardoor de resolutie hoger is
  2. BDe belichtingsgolflengte is verlengd tot 193 nm
  3. CBelichten zonder masker
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. De numerieke apertuur van het projectie-optiek is van 0,33 naar 0,55 vergroot, waardoor de resolutie hoger is

De numerieke apertuur van conventionele EUV-belichtingsapparaten is 0,33, maar bij High-NA EUV is die vergroot tot 0,55; de resolutie neemt ongeveer 1,7 keer toe en patronen met een pitch van het begin van de twintigtallen nm kunnen in één belichting worden belicht. De golflengte is dezelfde 13,5 nm. Daar staat tegenover dat de scherptediepte ondieper wordt en door de afhankelijkheid van de verkleining van de richting het belichtbare gebied (shot) de helft van het conventionele is. ASML heeft het ontwikkeld, en een systeem kost naar verluidt ongeveer 50 miljard yen.

“High-NA EUV” in de toelichting

Vragen met “High-NA EUV” (3)

  1. Welke eigenschap van „High-NA EUV”, ontwikkeld als volgende generatie EUV-belichtingsapparatuur, is juist?
  2. Welke verkleiningsfactor wordt bij het projecteren van het maskerpatroon op de wafer in huidige belichtingsapparaten (scanners) gewoonlijk gebruikt?
  3. Wat is de gebruikelijke maximale grootte van het gebied dat in één belichting (één shot) op de wafer kan worden belicht met huidige scanner-belichtingsapparaten?

Vergelijkingen met deze term

Halfgeleider-rekentools

Verwante termen

Numerieke apertuur (NA) Scherptediepte (DOF) Scanner Fotomasker (reticle) GPU Antireflectiecoating (BARC) ArF-excimeerlaser Chemisch versterkte resist (CAR) EUV-belichting Fasenverschuivingsmasker (phase-shift mask)

Naar de woordenlijst