Lithografie

Welke verkleiningsfactor wordt bij het projecteren van het maskerpatroon op de wafer in huidige belichtingsapparaten (scanners) gewoonlijk gebruikt?

  1. A1:1 (geen verkleining)
  2. B1/4
  3. C1/100
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: B. 1/4

In huidige belichtingsapparaten wordt het maskerpatroon gewoonlijk 4 keer verkleind op de wafer geprojecteerd. Omdat het patroon op het masker 4 keer zo groot mag zijn als op de wafer, is het masker gemakkelijk te maken, en worden kleine defecten en afmetingsfouten op het masker eveneens tot 1/4 verkleind en hebben ze minder invloed. Het masker is standaard een kwartsplaat van 6 inch in het vierkant (152 mm), waarop 4 keer een shot van 26 × 33 mm past. Bij High-NA EUV wordt afhankelijk van de richting een verkleining van 1/4 en 1/8 gecombineerd.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Lithografie

  1. Welke eigenschap van een scanner-belichtingsapparaat is juist?
  2. Welke eigenschap van het masker voor EUV-belichting is juist?
  3. Welke is de gebruikelijke procesvolgorde in lithografie?
  4. Hoe heet de techniek waarbij een matrijs (mold) met een fijn patroon in de resist wordt gedrukt om het patroon over te brengen?
  5. Welk apparaat wordt vooral gebruikt om het patroon van een fotomasker (reticle) te schrijven?

Vergelijkingen bij dit onderwerp