Lithografie

Welke eigenschap van „High-NA EUV”, ontwikkeld als volgende generatie EUV-belichtingsapparatuur, is juist?

  1. ADe numerieke apertuur van het projectie-optiek is van 0,33 naar 0,55 vergroot, waardoor de resolutie hoger is
  2. BDe belichtingsgolflengte is verlengd tot 193 nm
  3. CBelichten zonder masker
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. De numerieke apertuur van het projectie-optiek is van 0,33 naar 0,55 vergroot, waardoor de resolutie hoger is

De numerieke apertuur van conventionele EUV-belichtingsapparaten is 0,33, maar bij High-NA EUV is die vergroot tot 0,55; de resolutie neemt ongeveer 1,7 keer toe en patronen met een pitch van het begin van de twintigtallen nm kunnen in één belichting worden belicht. De golflengte is dezelfde 13,5 nm. Daar staat tegenover dat de scherptediepte ondieper wordt en door de afhankelijkheid van de verkleining van de richting het belichtbare gebied (shot) de helft van het conventionele is. ASML heeft het ontwikkeld, en een systeem kost naar verluidt ongeveer 50 miljard yen.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Lithografie

  1. Welke maat geeft de oneffenheden op nanometerschaal aan op de zijkant van een fijn resistpatroon?
  2. Welke uitspraak over de coëfficiënt k1 in de resolutieformule R = k1 × λ / NA is juist?
  3. Wat is de juiste hoofdoorzaak van de stochastische fluctuaties (stochastics) die bij EUV-belichting een probleem vormen?
  4. Wat is de juiste reden dat in de multilayer van een EUV-masker begraven defecten een probleem zijn?
  5. Hoe heet het bereik van voorwaarden waarbinnen de patroonafmetingen binnen de toegestane marge blijven, ook als belichtingsdosis en focus veranderen?

Vergelijkingen bij dit onderwerp