Oxidatie en diffusie

Welke eigenschap van radicaaloxidatie met zuurstofradicalen is juist?

  1. AOok bij relatief lage temperatuur kan een goede oxidefilm worden gemaakt en het verschil in oxidatiesnelheid door kristaloriëntatie is klein
  2. BEr is altijd een hoge temperatuur van 1200 °C of meer nodig
  3. CDe dikte van de oxidefilm verschilt sterk per kristaloriëntatie
Antwoord en toelichting tonen

Antwoord: A. Ook bij relatief lage temperatuur kan een goede oxidefilm worden gemaakt en het verschil in oxidatiesnelheid door kristaloriëntatie is klein

Zuurstofradicalen die onder meer met plasma worden gemaakt zijn zeer reactief, dus ook bij relatief lage temperaturen van ongeveer 400 tot 600 °C kan een goede oxidefilm worden gevormd die dicht bij thermische oxidatie ligt. Vergeleken met gewone thermische oxidatie zijn het verschil in oxidatiesnelheid door kristaloriëntatie en de vertraging van de oxidatie bij hoeken klein, en ook nitridefilms kunnen worden geoxideerd, zodat het wordt gebruikt voor oxidatie van driedimensionale structuren zoals de fins van FinFET's en 3D NAND, en voor processen met een strikt thermisch budget.

Dit onderwerp oefenen Naar de onderwerppagina

Meer vragen over Oxidatie en diffusie

  1. Waar vindt volgens het Deal-Grove-model thermische oxidatie plaats?
  2. Welke chemische reactie vindt plaats bij droge thermische oxidatie van silicium?
  3. Welk temperatuurbereik komt het dichtst bij het gangbare bereik voor thermische oxidatie van silicium?
  4. Welke uitleg over 'diffusie' van onzuiverheden in de halfgeleiderproductie is juist?
  5. Welk gangbaar gebruik van thermische oxidefilm van silicium is juist?