EUV vs. DUV Lithografie: Was ist der Unterschied?
Die Lithografie überträgt Schaltungsmuster mit Licht auf den Wafer. Die DUV-Lithografie (Deep Ultraviolet, tiefes Ultraviolett) nutzt 193-nm-Licht eines ArF-Lasers, mit Linsen und einer Wasserschicht zwischen Linse und Wafer (Immersion). Die EUV-Lithografie (Extreme Ultraviolet) nutzt 13,5-nm-Licht und kann daher weit feinere Muster in einer einzigen Belichtung drucken, doch das Licht wird von fast allem absorbiert, sodass das gesamte System aus Spiegeln im Vakuum aufgebaut sein muss. EUV ist erheblich teurer und komplexer.
| Aspekt | DUV (ArF-Immersion) | EUV |
|---|---|---|
| Wellenlänge | 193 nm | 13,5 nm |
| Lichtquelle | ArF-Excimerlaser | Laserproduziertes Plasma: Ein Laser trifft winzige Tropfen aus geschmolzenem Zinn |
| Optik | Linsen (refraktiv), bei Immersionssystemen mit Wasser zwischen der letzten Linse und dem Wafer | Nur Spiegel (reflektierende Multilayer), weil nahezu jedes Material EUV-Licht absorbiert |
| Fotomaske | Transmissive Maske aus Quarz | Reflektierende Maske mit Multilayer-Beschichtung |
| Umgebung | Luft oder Stickstoff, plus das Immersionswasser | Vakuum |
| Auflösung | Eine Einzelbelichtung löst Pitches bis etwa 80 nm auf; feinere Muster erfordern Mehrfachstrukturierung | Eine Einzelbelichtung kann Pitches von etwa 30 nm oder weniger drucken; High-NA-EUV geht weiter |
| Prozesskomplexität | Mehrfachstrukturierung (z. B. SADP, SAQP) vervielfacht die Zahl der Schritte | Weniger Schritte für die feinsten Schichten, aber neue Herausforderungen bei Resists und Masken |
| Hauptdefekte | Overlay-Fehler und Defekte durch Mehrfachstrukturierung | Stochastische Defekte durch die geringe Photonenzahl sowie Maskendefekte |
| Anlagenkosten | Zehn Millionen Dollar und mehr pro Anlage | Weit über hundert Millionen Dollar pro Anlage |
| Anbieter | ASML, Nikon und andere | ASML ist praktisch der einzige Anbieter |
| Typischer Einsatz | Die meisten Schichten der meisten Chips, auch fortgeschrittener | Die kritischsten, feinsten Schichten ab etwa der 7-nm-Klasse abwärts |
Die Zahlenangaben sind typische Größenordnungen und variieren je nach Prozessgeneration und Produkt.