Qu'est-ce que Scanner ?

Équipement d'exposition qui déplace de façon synchrone le masque et la plaquette sous une fente lumineuse. C'est le type dominant en production ; il projette généralement les motifs du masque réduits au 1/4.

Nom japonais: スキャナー

« Scanner » apparaît dans 3 questions d'entraînement réparties sur 2 thèmes, dont Lithographie, Métrologie et analyse.

Domaine: Lithographie

S'entraîner : questions sur Scanner

Quelle caractéristique d'un équipement de lithographie de type scanner est correcte ?

  1. AIl expose toute la surface du wafer en une seule fois
  2. BIl écrit directement sans masque
  3. CIl expose en déplaçant le masque et le wafer de façon synchronisée par rapport à une fente de lumière
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Réponse : C. Il expose en déplaçant le masque et le wafer de façon synchronisée par rapport à une fente de lumière

Le scanner n'éclaire qu'une zone en forme de fente de quelques mm de large et expose un champ (26×33 mm) en balayant le masque et le wafer en sens opposés, synchronisés avec un rapport de vitesse de 4:1. Il n'utilise que la partie centrale de la lentille, la moins affectée par les aberrations, peut exposer une zone longue dans la direction de balayage et moyenne les variations au sein du champ. Les platines se déplacent avec des accélérations de plusieurs m/s² tout en conservant une précision nanométrique. L'équipement qui expose en une fois à l'arrêt est le stepper.

Pour un scanner actuel, quelle est la taille généralement maximale de la zone exposable sur le wafer en une seule exposition (un champ) ?

  1. AToute la surface du wafer (300 mm de diamètre)
  2. BEnviron 1 mm × 1 mm
  3. CEnviron 26 mm × 33 mm
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Réponse : C. Environ 26 mm × 33 mm

Un scanner typique expose en un champ une zone d'environ 26 mm × 33 mm (environ 858 mm²) sur le wafer, et répète l'opération en déplaçant le wafer pour exposer toute la surface. Cette taille constitue la limite indicative de la taille maximale d'une puce (limite du réticule), et les grands GPU l'utilisent presque entièrement. Au-delà, on recourt aux chiplets reliant plusieurs puces ou à des connexions sur le boîtier. En High-NA EUV, cette zone est réduite de moitié.

« Scanner » dans les explications

Questions mentionnant « Scanner » (3)

  1. Quelle caractéristique d'un équipement de lithographie de type scanner est correcte ?
  2. Pour un scanner actuel, quelle est la taille généralement maximale de la zone exposable sur le wafer en une seule exposition (un champ) ?
  3. Que place-t-on sur la plaquette pour mesurer l’erreur de superposition (overlay) ?

Termes associés

Photomasque (réticule) GPU Ouverture numérique (NA) Overlay (précision de superposition) Découpe (dicing) Couche antireflet (BARC) EUV High-NA Fenêtre de procédé Laser excimère ArF Lithographie à immersion

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