Qu'est-ce que Perçage (punch-through) ?

Phénomène où les zones de déplétion de source et de drain se rejoignent, laissant circuler un courant non contrôlé par la grille. Il survient si le canal est trop court ou le dopage du substrat trop faible.

Nom japonais: パンチスルー

« Perçage (punch-through) » apparaît dans 7 questions d'entraînement réparties sur 6 thèmes, dont Implantation ionique, MOSFET, Transistors bipolaires.

Domaine: MOSFET

S'entraîner : questions sur Perçage (punch-through)

Quelle description du perçage (punch-through) d’un MOSFET est correcte ?

  1. ALa baisse de la mobilité du canal avec la température
  2. BLa jonction des zones de déplétion de source et de drain, qui laisse passer un courant non commandé par la grille
  3. CLe claquage de l’isolant de grille
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Réponse : B. La jonction des zones de déplétion de source et de drain, qui laisse passer un courant non commandé par la grille

Avec un canal court et un substrat faiblement dopé, la tension de drain étend la zone de déplétion côté drain jusqu’à celle de la source ; un courant circule alors en profondeur dans le substrat, indépendamment de la grille, et le transistor ne peut plus être bloqué. C’est le perçage. Les remèdes consistent à placer une couche fortement dopée sous la source et le drain (implantation halo/pocket), à rendre les jonctions moins profondes et, comme dans les FinFET et GAA, à entourer le canal par la grille pour supprimer les chemins de courant non commandés.

« Perçage (punch-through) » dans les explications

Questions mentionnant « Perçage (punch-through) » (7)

  1. Quelle description du perçage (punch-through) d’un MOSFET est correcte ?
  2. Quelle est la raison la plus appropriée d'amincir la base d'un transistor bipolaire ?
  3. Dans un FinFET sur substrat massif, quel est l'objectif de la couche fortement dopée placée au pied de l'ailette (zone difficile à contrôler par la grille) ?
  4. Dans la formation des caissons CMOS, comment appelle-t-on un caisson dont la concentration d'impuretés est plus élevée en profondeur qu'en surface, obtenu par implantation ionique à haute énergie ?
  5. Quel est le principal objectif de l'implantation halo (poche), qui implante en oblique, aux extrémités de la source et du drain, des impuretés de même type que le canal ?
  6. Quel est le principal avantage du montage en surface par rapport au montage traversant, qui insère les bornes dans les trous du circuit imprimé ?
  7. Quel nom donne-t-on aux étapes de mise en boîtier avancée qui utilisent, à l'état de plaquette, des techniques de microfabrication proches du front-end (formation de TSV, couches de redistribution fines, etc.), parce qu'elles se situent entre le front-end et le back-end ?

Termes associés

Zone de déplétion (zone de charge d'espace) Implantation halo (implantation poche) FinFET GAA (grille enrobante, gate-all-around) Longueur de diffusion Gain en courant (hFE) Rugosité de bord de ligne (LER) CMOS Implantation ionique Caisson rétrograde (retrograde well)

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