Mécanisme intégrant dans la puce un circuit de test qui génère lui-même les vecteurs de test et évalue les résultats. Très utilisé notamment pour le test des mémoires.
Nom japonais: BIST(組み込み自己テスト)
« BIST (autotest intégré) » apparaît dans 5 questions d'entraînement réparties sur 4 thèmes, dont Test et inspection, Semi-conducteurs automobiles et sécurité fonctionnelle, Circuits logiques.
Domaine: Test et inspection
Réponse : A. Détecter les défaillances latentes qui ne se manifestent pas en fonctionnement normal, notamment celles des mécanismes de sécurité eux-mêmes, et augmenter l'indicateur de défaillances latentes (LFM)
Même si des mécanismes de sécurité comme le circuit de correction de l'ECC ou le circuit de comparaison sont en panne, cela ne se manifeste pas en fonctionnement normal, et ces pannes subsistent comme défaillances latentes. En vérifiant les circuits de la puce elle-même par BIST logique ou BIST mémoire à la mise sous tension, on peut détecter ce type de défaillance avant de rouler et augmenter le LFM. L'exécution du BIST prend du temps, pendant lequel le traitement normal est impossible ; la conception doit donc aussi tenir compte des contraintes de temps au démarrage. Il ne sert ni à remplacer le test d'expédition ni à accélérer le traitement.
Réponse : B. Des circuits de test sont intégrés dans la puce, qui effectue elle-même son test
Le BIST intègre dans la puce un circuit de génération des vecteurs de test et un circuit d'évaluation des résultats, de sorte que la puce exécute elle-même son test. Le MBIST, destiné aux mémoires, génère à haute vitesse des séquences comme les tests March, tandis que le LBIST, destiné aux circuits logiques, utilise des séquences pseudo-aléatoires. Il réduit la dépendance vis-à-vis de testeurs coûteux ainsi que le temps de test et, dans l'automobile, permet un autodiagnostic à chaque mise sous tension, y compris après expédition.
En vérifiant les circuits de la puce elle-même par BIST logique ou BIST mémoire à la mise sous tension, on peut détecter ce type de défaillance avant de rouler et augmenter le LFM.
Du point de vue de la sécurité fonctionnelle, quel est le b…Le BIST intègre dans la puce un circuit de génération des vecteurs de test et un circuit d'évaluation des résultats, de sorte que la puce exécute elle-même son test.
Quelle description du BIST (autotest intégré) est correcte ?Réalisable avec des XOR et des bascules seulement, il sert à la génération de motifs et à la compression des résultats de l'autotest intégré (BIST), au calcul de CRC d'Ethernet notamment, et aux embrouilleurs qui moyennent le signal pour réduire le bruit électromagnétique.
Quelle est l'utilisation typique du registre à décalage à r…Comme le nombre de canaux du testeur requis augmente avec le nombre de puces mesurées simultanément, cette technique est combinée à des solutions réduisant le nombre de broches nécessaires, comme le BIST ou la compression de scan.
Comment appelle-t-on la technique consistant à mesurer simu…Le BIST est un circuit de test et l'EDA un ensemble d'outils de conception.
Quel système gère dans l'usine quel lot se trouve à quelle …Microcontrôleur ECC (code correcteur d'erreurs) Registre à décalage ATE (équipement de test automatique) ATPG (génération automatique de vecteurs de test) Carte à pointes (probe card) Défaut de collage (stuck-at fault) Déverminage (burn-in) DFT (conception en vue du test) KGD (Known Good Die)