Was ist BIST (integrierter Selbsttest)?

In den Chip eingebaute Testschaltung, die Testmuster selbst erzeugt und Ergebnisse selbst prüft. Sie wird z. B. häufig zum Testen von Speichern eingesetzt.

Japanische Bezeichnung: BIST(組み込み自己テスト)

Fachgebiet: Test und Inspektion

Verwandte Begriffe

ATE (automatische Testausrüstung, automatic test equipment) ATPG (automatische Testmustererzeugung) Burn-in (Voralterung) DFT (testgerechter Entwurf) Fehlerabdeckung (Fault Coverage) IDDQ-Test KGD (Known Good Die) Nadelkarte (probe card) Scan-Test (scan test) Stuck-at-Fehler

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